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泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300

簡要描述:泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300是一款良好的等效時間采樣示波器,為通信信號分析、串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析以及串行數(shù)據(jù)鏈路分析應(yīng)用提供Z高的保真測量和分析功能。
關(guān)鍵性能指標(biāo),超低時基抖動:在同時采集的Z多 8 條通道上,典型值為 425 fs
使用 82A04B 相位參考模塊時,在Z多 6 條通道上 <100 fs
Z佳的垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器

  • 產(chǎn)品型號:DSA8300
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-11-03
  • 訪  問  量:4567

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品牌TeKtronix/美國泰克

泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300

DSA8300 是一款良好的等效時間采樣示波器,為通信信號分析、串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析以及串行數(shù)據(jù)鏈路分析應(yīng)用提供zui高的保真測量和分析功能。

泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300關(guān)鍵性能指標(biāo)

  • 超低時基抖動:
    • 在同時采集的zui多 8 條通道上,典型值為 425 fs
    • 使用 82A04B 相位參考模塊時,在zui多 6 條通道上 <100 fs
  • *的垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器
  • 電接口分辨率: <20 μV LSB(適用于 1 V 全量程)
  • 光接口分辨率從 80C07B(1 mW 全量程)的 <20 nW 到 80C10C(30 mW 全量程)的 <0.6 µW
  • >80 GHz 的光接口帶寬
  • 電接口帶寬 >70 GHz
  • 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能
  • 80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板,自動進(jìn)行模板測試

主要功能

  • 通過當(dāng)前采樣模塊系列,DSA8300 支持同時采集zui多 8 個信號
  • 多種光接口、電接口和附件模塊,滿足您的特定測試要求
  • 光接口模塊
    • 全面集成光接口模塊,支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有標(biāo)準(zhǔn)光接口數(shù)據(jù)速率
    • 經(jīng)過認(rèn)證的光接口參考接收機,支持標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定必須進(jìn)行的*性測試的要求
    • >80 GHz 的光接口帶寬
    • 光接口采樣模塊提供了高光學(xué)靈敏度、低噪聲及寬動態(tài)范圍,可以準(zhǔn)確地測試和檢定短程到遠(yuǎn)程光接口通信標(biāo)準(zhǔn)
    • 經(jīng)過全面校準(zhǔn)的時鐘恢復(fù)解決方案 – 不需要手動校準(zhǔn)數(shù)據(jù)撿拾損耗
    • 經(jīng)過校準(zhǔn)的消光比測量,在采用這一出廠校準(zhǔn)選項模塊時,系統(tǒng)間消光比測量可靠性 <0.5 dB
  • 電接口模塊
    • 超低噪聲電接口采樣器(20 Ghz 時為 280 μV,60 Ghz 時為 450 μV,典型值)
    • 可以選擇帶寬1允許用戶用采樣器帶寬和噪聲換取*的數(shù)據(jù)采集性能
    • 遠(yuǎn)程采樣器2或緊湊的采樣擴展模塊電纜,采樣器可以放在被測器件附近,使信號劣化達(dá)到zui小
    • 世界上性能zui高的集成 TDR(10 ps 典型階躍上升時間),高效檢定阻抗不連續(xù)點,高動態(tài)范圍,執(zhí)行高達(dá) 50 Ghz 的 S 參數(shù)測量
  • 分析
    • 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了一套完整的超過 120 種自動測量功能
    • 80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板,自動進(jìn)行模板測試。 新模板可以導(dǎo)入到 DSA8300 中,支持新出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)。 此外,用戶可以為自動模板測試定義自己的模板
    • 垂直直方圖和水平直方圖,對波形進(jìn)行統(tǒng)計分析
    • 垂直光標(biāo)、水平光標(biāo)和波形光標(biāo)(帶測量數(shù)據(jù))
    • 通過 80SJNB 基本和高級應(yīng)用軟件選項提供抖動、噪聲、BER 和串行數(shù)據(jù)鏈路分析
    • 通過 IConnect® 應(yīng)用軟件選項提供高級 TDR 分析、S 參數(shù)測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能
  • 高測試吞吐量
    • 每條通道高達(dá) 300 kS/s 的采樣采集速率
    • 高效編程接口(IEEE-488、以太網(wǎng)或本地處理器接入)實現(xiàn)高測試吞吐量

1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模塊。

2 僅適用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

應(yīng)用

  • 設(shè)計/檢驗電信和數(shù)據(jù)通信器件和系統(tǒng)
  • ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/*性測試
  • 高性能真正差分 TDR 測量
  • 串行數(shù)據(jù)應(yīng)用阻抗檢定和網(wǎng)絡(luò)分析,包括 S 參數(shù)
  • 高級抖動、噪聲和 BER 分析
  • 通道和眼圖仿真及基于測量的 SPICE 模型

杰出的性能,優(yōu)異的通用性

DSA8300 數(shù)字串行分析儀為開發(fā)和測試采用幾千兆位數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)的通信、計算機和消費電子提供了用途zui廣泛的工具。 它可以用來對這些產(chǎn)品中使用的器件、模塊和系統(tǒng)的光接口和電接口發(fā)射機進(jìn)行檢定及*性測試檢驗。

此外,DSA8300 特別適合電接口信號路徑檢定,包括封裝、PCB 或電纜。 由于杰出的帶寬、信號保真度及可擴展性zui強的模塊化模塊,DSA8300 為當(dāng)前和新興串行數(shù)據(jù)技術(shù)提供了zui高性能的 TDR 和互連分析能力、zui準(zhǔn)確的信號損傷分析能力以及 BER 計算功能。


 

光接口眼圖測試



 

無源互連測試

 

zui后,由于杰出的信號保真度和分辨率,對要求超高帶寬、超精細(xì)垂直分辨率、低抖動和/或杰出時間間隔精度的電接口和光接口應(yīng)用,DSA8300 提供了黃金標(biāo)準(zhǔn)。

DSA8300 擁有*的測量系統(tǒng)保真度及zui低的基本儀器抖動本底(對 >1.25 Gb/s 的串行數(shù)據(jù)信號,典型值為 425 fs RMS),保證zui準(zhǔn)確地同時采集zui多 8 個高帶寬信號。 使用相位參考模塊 (82A04B) 時采集抖動可低至 100 fs RMS,使分析效果更佳。

多處理器結(jié)構(gòu)及每插槽數(shù)字信號處理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率,縮短了進(jìn)行可靠的檢定和*性測試所需的測試時間。

DSA8300 的通用模塊化結(jié)構(gòu)支持大量的且不斷增加的插件,您可以為測量系統(tǒng)配置各種您當(dāng)前應(yīng)用和未來應(yīng)用的電接口模塊、光接口模塊和附件模塊。 DSA8300 提供了 6 個模塊插槽,可以同時容納一個時鐘恢復(fù)模塊、一個精密相位參考模塊和多個電接口或光接口采集模塊,可以讓系統(tǒng)性能與不斷演變的需求相適應(yīng)。 由于能夠在不斷電的情況下插拔采樣模塊,DSA8300(適用于固件版本為 6.1 及以上的示波器)可以根據(jù)測試需求變化,更加靈活地配置 DSA8300。

該電接口模塊系列擁有業(yè)內(nèi)的信號保真度,包括 20 GHz 到 >70 GHz 的帶寬性能,光接口模塊支持從 125 Mb/s 到 100 Gb/s 以上的光接口測試,提供了超過 80 GHz 的光接口帶寬。 DSA8300 支持所有傳統(tǒng)的 8000 系列電接口和光接口采樣模塊和附件。1

此外,模塊配套功能,如單端和差分電學(xué)時鐘恢復(fù)、電接口采樣器靜電保護(hù)及連接流行的 TekConnect® 探測系統(tǒng),在高阻抗探測和差分探測中提供了*的泰克探頭性能。 另外,還提供用于 50 Ω 探測和 TDR 探測的低阻抗探頭。

DSA8300 及相關(guān)應(yīng)用軟件完善的測量和分析功能進(jìn)一步增強了 DSA8300 及其采樣模塊和附件的原始采集性能。 例如,IConnect® 應(yīng)用軟件為無源電接口互連(封裝、印刷電路板、背板、電纜等)提供了完整的 TDR、S 參數(shù)和信號完整性分析,80SJNB 應(yīng)用軟件則為光接口和電接口串行數(shù)據(jù)鏈路提供了完整的抖動、噪聲和誤碼率分析及通道和均衡分析和仿真功能。

1 DSA8300 不支持 80A06 碼型同步模塊,這一功能已經(jīng)被 DSA8300 集成高級觸發(fā)選項(選項 ADVTRIG)所代替。

抖動、噪聲、BER 和串行數(shù)據(jù)鏈路分析


 

抖動、噪聲和 BER 分析

 

三種軟件解決方案支持高速串行數(shù)據(jù)鏈路測量和分析:80SJARB、80SJNB Essentials 和 80SJNB Advanced。1

  • 80SJARB(選項 JARB)是一種基本抖動測量工具,能夠測量任何波形(隨機波形或重復(fù)性波形)上的抖動。其采集簡單,限制了可能進(jìn)行的分析數(shù)量,因此只能使用zui簡單的分解功能,其可重復(fù)性與碼型相關(guān)。
  • 80SJNB Essentials(選項 JNB)可以全面分析抖動、噪聲和 BER,支持成分分解,可以清楚地了解信號的問題和余量。這種采集方式要求重復(fù)性碼型。與 80SJARB 相比,其精度和可重復(fù)性都得到改進(jìn),因為該工具可以訪問完整的信號碼型。
  • 80SJNB Advanced(選項 JNB02)在 80SJNB Essentials 中增加了多種串行數(shù)據(jù)鏈路分析功能,包括夾具反嵌、通道仿真、FFE/DFE 均衡和預(yù)加重/去加重。

1 可以購買這些應(yīng)用軟件,安裝在現(xiàn)有的帶有 DSA83UP 升級套件的 DSA8300 示波器上。

SDLA 分析:SDLA Visualizer 和 JNB 信號路徑

SDLA Visualizer 的良好功能現(xiàn)在完善了 JNB 的信號路徑功能。通過提供完整的 4 端口反嵌,SDLA Visualizer 擴展了 JNB 信號路徑的反嵌和通道仿真功能,它不僅建立插入損耗效應(yīng)模型,還建立回波損耗和交叉耦合效應(yīng)模型。SDLA Visualizer 還完善了 JNB中的DFE/FFE 接收機均衡支持,并新增 CTLE 均衡建模功能。

SDLA Visualizer 與 JNB Advanced 中內(nèi)置的信號路徑功能一起運行。在配置 SDLA Visualizer、選擇所需的測試點、應(yīng)用模型后,該應(yīng)用程序會將選定測試點的濾波器自動加載到信號路徑濾波器模塊中。

如果要求 DFE 或 FFE 均衡,這些參數(shù)可以迅速輸入 JNB 信號路徑中,然后可以進(jìn)行zui終測量。

這些只是 SDLA Visualizer 提供的多種功能的部分實例。詳情請參閱 SDLA Visualizer 產(chǎn)品技術(shù)資料:www.tektronix。。com。

分析任意數(shù)據(jù)的抖動 (80SJARB)

DSA8300 系列使用的 80SJARB 抖動測量應(yīng)用軟件適用于要求 J2 和 J9 抖動測量的 IEEE 802.3ba 應(yīng)用。 它還可讓您對 NRZ 數(shù)據(jù)信號進(jìn)行基本抖動測量,包括 PRBS31、隨機性業(yè)務(wù)和加擾數(shù)據(jù)。 這提供了一種入門級抖動分析功能,支持簡單的 Dual Dirac 模型抖動分析,沒有碼型同步要求。

80SJARB 可在自由運行模式下連續(xù)采集數(shù)據(jù),其采集和更新速率均超過了 IEEE 規(guī)定的 10,000 個數(shù)據(jù)點的zui低要求。

它為測得數(shù)據(jù)和推斷數(shù)據(jù)提供了抖動和眼圖張度浴缸曲線,為采集數(shù)據(jù)提供了直方圖。

80SJARB 抖動分析測量

測量

說明

J2BER = 2.5e-3 時的總抖動
J9BER = 2.5e-10 時的總抖動
TjBER = 2.5e-12 時的總抖動
DJdd確定性抖動(Dual Dirac 模型)
RJdd隨機性抖動(Dual Dirac 模型)

80SJNB 抖動分析測量

測量說明
TJ@BER BER 時的總抖動
J2BER = 2.5e-3時的總抖動
J9BER = 2.5e-10時的總抖動
RJ隨機抖動
RJ(h)隨機性抖動的水平分量
RJ(v)隨機抖動的水平成分
RJ(d-d)根據(jù) Dual Dirac 模型得出的隨機抖動
DJ確定性抖動
DDJ數(shù)據(jù)相關(guān)抖動
DDPWS數(shù)據(jù)相關(guān)脈寬收縮量
DCD占空比失真
DJ(d-d)在 Dual Dirac 模型中計算得出的確定性抖動
PJ周期性抖動
PJ(h)周期性抖動的水平成分
PJ(v)周期性抖動的垂直成分
EO@BER BER 下水平眼圖張開
BUJ有界不相關(guān)抖動
NPJ非周期性抖動(不相關(guān),有界)
SSC 幅度SSC 調(diào)制幅度,單位:ppm
SSC 頻率SSSC 調(diào)制頻率,單位:ppm

80SJNB 噪聲分析測量

測量說明
RN隨機噪聲
RN(v)隨機噪聲的垂直成分
RN(h)隨機噪聲的水平成分
DN確定性噪聲
DDN1邏輯電平 1 上的數(shù)據(jù)相關(guān)噪聲
DDN0邏輯電平 0 上的數(shù)據(jù)相關(guān)噪聲
PN周期性噪聲
PN(v)周期性噪聲的垂直成分
PN(h)周期性噪聲的水平成分
EO@BER BER 上的垂直眼圖張開
BUN有界不相關(guān)噪聲
NPN非周期性噪聲

80SJNB Advanced(選項 JNB02)

80SJNB Advanced(選項 JNB02) 支持:

  • FFE(前饋均衡)至 100 個分接點
  • FE(判定反饋均衡)支持 40 個分接點
  • 支持從夾具反嵌到發(fā)射機均衡的線性濾波器。對一階諧波頻率損耗 >30 dB 的通道,支持通道仿真

TDR(時域反射儀)應(yīng)用


 

使用 80E10B 亞毫米分辨率和 IConnect® 真正阻抗輪廓,迅速識別問題的精確位置

 

DSA8300 是業(yè)內(nèi)性能zui高的全集成時域反射計 (TDR) 測量系統(tǒng)。 DSA8300 提供了高達(dá) 50 GHz 帶寬的及 15 ps 反射上升時間和 12 ps 入射上升時間的真正的差分 TDR 測量1,可以滿足當(dāng)前zui苛刻的串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA) 要求。

80E10B 和 80E08B TDR 模塊擁有全面集成的獨立雙通道 2m 遠(yuǎn)程采樣器系統(tǒng),使夾具減到zui小,保證了*的系統(tǒng)保真度。 獨立采樣器偏移校正技術(shù)保證快速簡便地反嵌夾具和探頭。 通過使用一個差分模塊的 TDR 階躍驅(qū)動一個線對,同時使用第二個差分模塊監(jiān)測第二個線對,用戶可以檢定輸入串?dāng)_。

DSA8300 是業(yè)內(nèi)功能zui齊全的 TDR 測量系統(tǒng),包含至多 4 個雙通道真正差分 TDR 模塊,從而具有快速準(zhǔn)確的多通道阻抗和 S 參數(shù)表征。

P80318 真正差分 TDR 探頭和 P8018 單端無源手持式 TDR 探頭為檢定電路板阻抗和電接口信號提供了高性能探測解決方案。 P80318 是一種 18 GHz 100 Ω 輸入阻抗差分 TDR 手持探頭,可以對差分傳輸線進(jìn)行高保真阻抗測量。 可以調(diào)節(jié)的探頭間隙支持各種差分線路間距和阻抗。 P8018 是一種 20 GHz 單端無源手持式 TDR 探頭。 P80318 和 P8018 都可以作為獨立式探頭使用,它們都采用專門設(shè)計,可以與 80A02 EOS/ESD 模塊結(jié)合使用,提供 EOS/ESD 保護(hù)功能。

1 上升時間為 10-90%。 80E10B 的典型反射上升時間 <10 ps。

幾千兆位信號路徑檢定和分析 – 串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA)


 

串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析

 

隨著數(shù)字電路的時鐘速率和上升時間不斷提高,互連信號完整性對數(shù)字系統(tǒng)的性能影響非常大。 在時域和頻域中對信號路徑和互連進(jìn)行準(zhǔn)確高效的串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA),對預(yù)測信號損耗、抖動、串?dāng)_、端接和振鈴、數(shù)字誤碼和眼圖劣化至關(guān)重要,以確保系統(tǒng)可靠運行。

泰克提供多個真正差分 TDR 模塊,這些模塊與 IConnect® 軟件相結(jié)合,可以以高達(dá) –70 dB 的動態(tài)范圍進(jìn)行 S 參數(shù)測量。 這種性能保證了在串行數(shù)據(jù)分析、數(shù)字設(shè)計、信號完整性和電接口*性測試應(yīng)用中進(jìn)行準(zhǔn)確的、可重復(fù)的測量。

裝有 IConnect® 軟件的 TDR 模塊性能

TDR 模塊S 參數(shù)測量帶寬性能
80E10B50 GHz
80E08B30 GHz
80E0420 GHz

通過長記錄長度采集技術(shù),IConnect® 提供了巨大的靈活性,在執(zhí)行 S 參數(shù)測量時獲得了所需的頻率范圍和頻率階躍。 可以采集zui多 1,000,000 點數(shù)據(jù)。

在結(jié)合使用 IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數(shù)軟件及 DSA8300 時,您可以獲得高效、易用、經(jīng)濟的解決方案,基于測量數(shù)據(jù)評估幾千兆位互連鏈路和器件的性能,包括信號完整性分析、阻抗、S 參數(shù)和眼圖測試及故障隔離。

IConnect® 可以幫助您在幾分鐘內(nèi)、而不是幾天內(nèi)完成互連分析任務(wù),加快系統(tǒng)設(shè)計時間,降低設(shè)計成本。 IConnect® 還可以進(jìn)行許多串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求的阻抗、S 參數(shù)和眼圖*性測試,及對幾千兆位互連進(jìn)行全面的通道分析、Touchstone (SnP) 文件輸出建模。

故障分析 – 迅速識別問題位置

80E10B 擁有 12 ps 的典型 TDR 上升時間,提供了杰出的分辨率,可以zui快、地隔離封裝、電路板和芯片故障分析應(yīng)用中的問題。

IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數(shù)軟件

IConnect® S 參數(shù)軟件在 DSA8300 TDR 平臺上運行,為數(shù)字設(shè)計、信號完整性分析和互連*性測試中的 S 參數(shù)測量提供了、吞吐量zui高的方式,與類似帶寬的 VNA 相比,可以節(jié)約高達(dá) 50% 的成本,明顯加快測量速度。

您還可利用 IConnect® S 參數(shù)軟件的命令行界面,在使用 TDR 儀器進(jìn)行的整套制造測試中自動進(jìn)行 S 參數(shù)測量,明顯縮短測試時間,提高測量可靠性。 可以使用參考源(開路、短路、直通)簡便地校準(zhǔn) S 參數(shù),并可以選配 50 Ω 負(fù)荷,輕松實現(xiàn)測量、夾具反嵌及移動參考平面。 Touchstone 文件格式輸出可以簡便地共享 S 參數(shù)文件,進(jìn)一步進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和仿真。

泰克提供了多款真正差分 TDR 模塊,這些模塊與 IConnect® 相結(jié)合,提供了帶寬高達(dá) 50 GHz 及動態(tài)范圍 –70 dB 的 S 參數(shù)測量能力。 這一性能超越了串行數(shù)據(jù)分析、數(shù)字設(shè)計和信號完整性應(yīng)用的要求,串?dāng)_解析精度達(dá)到 1% (–40 dB),而電接口*性測試模板一般要求在 –10 至 –30 dB 的范圍內(nèi)進(jìn)行測量。

IConnect® 軟件可讓您:

  • 直接從 TDR/T 或 VNA S 參數(shù)測量中,迅速簡便地為 PCB、柔性電路板、連接器、電纜、封裝、插座和 I/O 緩沖輸入生成 SPICE 和 IBIS 模型。
  • 顯示數(shù)字系統(tǒng)中的眼圖惡化、抖動、損耗、串?dāng)_、反射和振鈴。
  • 明顯簡化了互連鏈路的信號完整性分析、均衡和加重器件設(shè)計以及帶有發(fā)射機和接收機的互連鏈路分析。
  • IConnect® Linear Simulator 可讓設(shè)計人員把多條互連通道連接起來,評估整體時域和頻域性能及整個通道的眼圖。

如需進(jìn)一步了解 IConnect® 應(yīng)用軟件,請參閱“IConnect® 信號完整性、TDR 和 S 參數(shù) SW – 80SICMX ? 80SICON ? 80SSPAR”產(chǎn)品技術(shù)資料。

光接口測試應(yīng)用測量和分析工具

DSA8300 為滿足光接口測試應(yīng)用專門設(shè)計的各種測量和分析工具。除標(biāo)準(zhǔn)幅度和定時參數(shù)測量外(如上升時間/下降時間、幅度、RMS 抖動、RMS 噪聲、頻率、周期等)外,DSA8300 的測量套件還包括為測量光接口信號訂制的測量(平均光接口功率、消光比、眼圖高度、眼圖寬度、光接口調(diào)制幅度 (OMA)、等等)。如需完整的測量清單,請參閱本產(chǎn)品技術(shù)資料的測量部分。

DSA8300 包括從 155 Mb/s 至 100 Gb/s 所有常用光接口標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)*性測試模板。DSA8300 模板測試系統(tǒng)能夠自動把標(biāo)準(zhǔn)模板和用戶模板擬合到采集進(jìn)波形數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)。模板測試系統(tǒng)還可以基于模板違例總數(shù)或模板違例相對于模板測試單位間隔中采集的樣點數(shù)的比率,自動確定模板余量。用戶還可以創(chuàng)建定制模板,自動進(jìn)行模板測試。另外還提供了直方圖和光標(biāo)測量,分析 DSA8300 采集的光接口信號。

zui后,80SJNB 應(yīng)用軟件支持全面分析光接口信號的抖動、噪聲和 BER。這一軟件的高級版本(選項 JNB02)支持評估有損傷的信號的加重和均衡。

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